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SN74BCT8374ADW
As imagens são apenas para referência. Consulte as especificações do produto para obter detalhes do produto
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SN74BCT8374ADW

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC


Fabricante: Texas Instruments

Datasheet: SN74BCT8374ADW

Preço:

USD $10.72

Estoque: 235 pcs

Parâmetro do produto

Série
74BCT
Embalagem
Tube
Tipo lógico
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Status da peça
Active
Tipo de montagem
Surface Mount
Número de Bits
8
Pacote / Caso
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Tensão de abastecimento
4.5V ~ 5.5V
Número da peça base
74BCT8374
Temperatura de operação
0°C ~ 70°C
Pacote de dispositivo de fornecedor
24-SOIC

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